TCH-300/TCH-310（带上位机软件）超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

TCH-300/TCH-310（带上位机软件）超声波测厚仪采用高性能、低功耗微处理器技术，适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播，并能从其背面得到反射的多种材料厚度的测量。可对多种板材和多种加工零件作准确测量，还可以对生产设备中多种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。

TCH-300/TCH-310（带上位机软件）超声波测厚仪可以对超声波良导体材料的厚度进行测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。    

 

2、技术参数：
1. 执行标准：ZBN77001-89
2. 测量范围:0.75mm~300.0mm (钢，由探头决定）
3. 声速范围:1000m/s~9999m/s

4. 显示分辨率:0.01mm or 0.1mm可选择；显示:128×64 LCD数字显示 （带LED背光调节、方便在光线暗的场合使用）
5. 测量单位：公制/英制
6. 供电电源:5号干电池两节，正常工作时间250小时（不开背光灯）
7. 通信口：USB接口，带上位机软件（仅TCH-310带）

8. 测量精度:±（0.5%H+0.1）mm （H为被测物实际厚度）

9. 校 准：4.0mm（钢）

10. 外形尺寸：150mm×74mm×32mm
11. 重量：238g
12. 测量速度：20次/秒
13. 数据存储：500组数据；5个文件（每个文件100组数据）

 

 

高低增益可调功能，可测铸件和超薄件

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他多种超声波的良导体的厚度；

可选择（2M、5M、7M、高温）等不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；

可设置上下限值，对限值外的测量值自动报警；

具有探头零点校准，可对系统误差进行自动修正；

已知厚度可以反测声速，两点校准功能，提高测量准确度；

具有最小厚度值捕获功能 ；

点阵LCD显示，白色高亮LED背光灯显示，适合灰暗环境中使用；

具有耦合状态提示、低电压指示、自动休眠、自动关机等节电功能；

小巧、便携、可靠性高，适用于较恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；

 

4、工作条件：